高速高性能数据采集系统介绍和应用

  

  报告题目:高速高性能数据采集系统介绍和应用

  报告人: Dr. Peter Grudberg, 美国XIA工厂

  时间:2019年6月14日(星期五)10:00-12:00

  地点:近代物理所5号楼911会议室

  交流会摘要:

  本次交流会将介绍美国XIA工厂的高速高性能数据采集系统的产品和应用。XIA的数据采集卡可以将来自HPGe、闪烁体、硅探测器、中子探测器等几乎任何探测器的输入信号快速数字化,具有全数字触发滤波、能量滤波、堆积检测等功能。内置FPGA和DSP固件,用于脉冲高度重建、脉冲波形分析和MCA直方图生成。这些模块可以组合成庞大的数据采集系统,采集分布式定时和触发信号,进行时间符合和能谱测量。XIA的许多产品都可以定制特殊的固件,以支持最终用户的应用需求。

  主要介绍的产品有:

  台式数字化仪:独立的网络连接的多路数字化仪,基于嵌入式,FPGA/ARM/ LINUX系统,允许用户定制。

  插件式数据采集卡:PXI/PXIe总线,方便建立中大型数据获取系统。

  嵌入式数据采集卡:体积小、功耗低、性能高,嵌入各种检测设备。

  X射线谱仪:适用于单探头或多条SDD、HPGe等X射线探测器,应用于世界上多个同步辐射加速器中。

  届时会有实物的现场演示。